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SN74BCT8244ADWE4
| EXSHINE Número de pieza: | EX-SN74BCT8244ADWE4 |
|---|---|
| Fabricante Número de pieza: | SN74BCT8244ADWE4 |
| Fabricante / Marca: | Texas Instruments |
| Breve descripción: | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC |
| Estado Libre de plomo / Estado RoHS: | Sin plomo / Cumple con RoHS |
| Condición: | New and unused, Original |
| Descarga de la hoja de datos: | SN74BCT8244ADWE4 |
| Solicitud: | - |
| Peso: | - |
| Reemplazo Alternativo: | - |
Disponibilidad en tiempo real para
SN74BCT8244ADWE4
En stock: 68780 Las PC se pueden enviar en 1-2 días.
Stock futuro: 12000 piezas en 7-10 días.
Plazo de ejecución del fabricante: 8-10 semanas
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Plazo de ejecución del fabricante: 8-10 semanas
- Descripción
- Pago
- Envío
- embalaje
Parámetro del producto
| Tensión de alimentación | 4.5 V ~ 5.5 V |
|---|---|
| Paquete del dispositivo | 24-SOIC |
| Serie | 74BCT |
| embalaje | Tube |
| Paquete / Cubierta | 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) |
| Temperatura de funcionamiento | 0°C ~ 70°C |
| Número de bits | 8 |
| Tipo de montaje | Surface Mount |
| Nivel de Sensibilidad a la Humedad (MSL) | 1 (Unlimited) |
| Tiempo de entrega estándar del fabricante | 6 Weeks |
| Número de pieza del fabricante | SN74BCT8244ADWE4 |
| Tipo de lógica | Scan Test Device with Buffers |
| Descripción ampliada | Scan Test Device with Buffers IC 24-SOIC |
| Descripción | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC |
Otros
| Paquete estándar | 25 |
|---|
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