Casa > Productos > Resultado de búsqueda

Resultado de búsqueda

17Products Found

Imagen Mfg. Número de pieza Fabricantes Breve descripción Ficha de datos En stock Precio del articulo Comprar online
XC164CS32F40FBBAKXQMA1 Infineon Technologies 16 BIT FLASH Descargar Ver US$ 16.339 Investigación
XC164CS32F40FBBAFXUMA1 Infineon Technologies 16 BIT FLASH Descargar Ver US$ 14.83 Investigación
XC164CS32F40FBBAKXUMA1 Image XC164CS32F40FBBAKXUMA1 Infineon Technologies IC MCU 16BIT 256KB FLASH 100TQFP Descargar Ver   Investigación
XC164CS32F20FBBAKXUMA1 Image XC164CS32F20FBBAKXUMA1 Infineon Technologies IC MCU 16BIT 256KB FLASH 100TQFP Descargar Ver US$ 15.74 Investigación
564CS3LAA752EF500M FCI 564CS3LAA752EF500M FCI SSOP new date code and low price Ver   Investigación
KX164CS32F40FBBAXP INF KX164CS32F40FBBAXP INF Call new date code and low price Ver   Investigación
FXC164CS32F40F INF FXC164CS32F40F INF SMD or Through Hole new date code and low price Ver   Investigación
SAFXC164CS32F40FBB-A INF SAFXC164CS32F40FBB-A INF SMD or Through Hole new date code and low price Ver   Investigación
SAKXC164CS32F40FBBA INF SAKXC164CS32F40FBBA INF 1400TRQFP new date code and low price Ver   Investigación
SAKXC164CS32F20FBBA INFINEON SAKXC164CS32F20FBBA INFINEON SMD or Through Hole new date code and low price Ver   Investigación
SAKXC164CS32F40F INF SAKXC164CS32F40F INF ORIGINAL new date code and low price Ver   Investigación
SAFXC164CS32F40F inf SAFXC164CS32F40F inf SMD or Through Hole new date code and low price Ver   Investigación
SAH-XC164CS32F40F INFINEON SAH-XC164CS32F40F INFINEON QFP new date code and low price Ver   Investigación
0026A1964CS3194 TE Connectivity Raychem Cable Protection COAX CABLE-DATA BUS Descargar Ver US$ 3.381 Investigación
0026L9964CS3194 TE Connectivity Raychem Cable Protection COAX CABLE-DATA BUS Descargar Ver US$ 2.025 Investigación
TU24C64CS3 EXSHINE CMOS IC 2-WIRE BUS 64K ELECTRICALLY ERASABLE PROGRAMMABLE ROM 8K X 8 BIT EEPROM Ver   Investigación
XF20064CS3 XFMRS XF20064CS3 XFMRS ORIGINAL New in stock Ver   Investigación